Kontakt

Jørgen Garnæs
+45 45255884
jg@dfm.dk

Sabrina Rostgaard Johannsen
+45 25459031
srj@dfm.dk

Jan Hald
Nano

+45 25459019
jha@dfm.dk

Kalibreringer og prøvninger inden for længde

DTU Mekanik (CGM) og DFM indgik per 1. januar 2016 en aftale om overdragelse af DTU’s akkrediterede metrologiaktiviteter inden for området længde til DFM. Aktiviteterne inkluderede kalibrering og prøvning inden for ruhedsmålere, ruhedsnormaler og hulplader, således at DFM nu spænder over et større område inden for overfladekarakterisering, med forøget relevans for dansk industri.

 

Akkrediteret kalibrering af ruhedsmålere

DFM kan kalibrere alle typer ruhedsmålere med sporbarhed til PTB i Tyskland. Der kan tilbydes flere forskellige typer kalibreringer idet opbygningen af den aktuelle ruhedsmåler er afgørende for hvilken type, der bør vælges.

DFM udfører tre forskellige typer kalibreringer: Parameter-, forstærknings- og totalkalibrering. Fælles for disse er, at kalibreringerne foretages for sammenhørende taster og forstærkningstrin. Kalibreringer foretages i DFM's laboratorier i Lyngby. Ønskes kalibreringen foretaget ved virksomheden kan dette imødekommes.

Der kan vælges mellem to fremgangsmåder ved kalibreringen: Enten kan der foretages justering af ruhedsmåleren eller der kan udregnes kalibreringsfaktorer til korrektion af de beregnede parameterværdier. Foretages justering vil ruhedsmåleren vise de korrekte værdier direkte, dog med risiko for, at elektronikken driver et stykke tid efter justeringen. Ved at anvende kalibreringsfaktorer undgår man denne drift, til gengæld viser ruhedsmåleren ikke direkte de korrekte værdier.

Læs mere om ruhedsmålere i produktbladet her.

 

Akkrediteret kalibrering af ruhedsnormaler

DFM foretager akkrediteret kalibrering af ruhedsnormaler med sporbarhed til PTB i Tyskland. Ruhedsnormaler anvendes ved kalibrering af ruhedsmålere. De forskellige typer ruhedsnormaler er beskrevet i DS/ISO 5436-1:

  • Type A anvendes til kontrol af den vertikale forstørrelse for profilregistrerende instrumenter med vertikaltmålende taster 
  • Type B anvendes primært til kontrol af tastspidsens tilstand  
  • Type C anvendes primært til kontrol af parameterregistrerende tastsnit-instrumenter  
  • Type D anvendes til den samlede kontrol af instrumentkalibreringen

DFM er akkrediteret til at kalibrere følgende standardiserede normaler:

  • ISO type A1: Brede riller med plan bund (2 riller)  
  • ISO type A2: Brede riller med afrundet bund (6 riller)  
  • ISO type B2: Riller med enkel form  
  • ISO type C1: Riller med sinusbølgeform  
  • ISO type C2: Riller med ligebenet trekantprofil  
  • ISO type C3: Simulerede sinusbølge riller  
  • ISO type C4: Riller med cirkelbuet bund  
  • ISO type D: Profiler med uregelmæssig form i én retning

Bedste måleevne : 1 % af parameterværdi

Læs mere om kalibrering af ruhedsnormaler i produktbladet her.

 

Akkrediteret kalibrering af hulplader

Opto-mekaniske hulplader anvendes til kalibrering af koordinatmålemaskiner, profilprojektorer og målemikroskoper. Referenceelementerne i hulpladen består af huller i en tynd metalplade monteret i et stabilt fikstur. Billedet viser et eksempel på en hulplade udviklet af Institut for Produktion og Ledelse (IPL) på Danmarks Tekniske Universitet (DTU).

DFM tilbyder akkrediteret kalibrering af hulplader i henhold til en tysk DKD-retningslinie (april 1993) udviklet af PTB. Målingerne foregår dels ved en måling af alle pladens huller efter den såkaldte omslagsmetode, dels ved en komparatormåling hvor sporbarheden overføres ved hjælp af en kalibreret hulplade. Derudover tilbydes en akkrediteret D0 kalibrering hvor hulpladen kun kalibreres i en enkelt position.

Læs mere om hulplader i produktbladet her.

 

Akkrediteret prøvning af overfladebeskaffenhed

DFM kan måle overfladebeskaffenhed på indvendige og udvendige overflader ved hjælp af en kalibreret ruhedsmåler. Overfladebeskaffenhed mellem 0.05 μm og 400 μm kan måles. Behandlingen af profildata foretages med mulighed for en lang række analyse og evalueringsmetoder.

Ved måling af overfladebeskaffenhed er det muligt at beregne de forskellige standardiserede R-, W og P parametre i DS/ISO 4287 illustreret i tabellen.

Ruhedsparametrene beregnes v.h.a. Gauss filter efter DS/ISO 11562. Endvidere kan bærekurveparametrene efter DS/ISO 13565-2 beregnes. DFM kan foretage spektralanalyse af profildata ved procesanalyser, hvor tidsfænomener er af betydning.

For samtlige målinger angives måleresultatet med en vurderet måleusikkerhed. Endvidere udarbejdes fyldestgørende dokumentation for målingernes udførelse og sporbarhed. Udover parameterværdier indeholder dokumentationen grafiske fremstillinger af disse. Bedste måleevne er 2 % af parameterværdi.

 

Udmåling af ruhed

Udmåling af overfladeruhed over længder op til 500 µm og amplituder mindre end 10 µm. Ruhedens størrelse kan måles helt ned til en atomar skala (< 1 nm).

En udmåling kan bruges ved kvalitetskontrol og specifikation af mikromekaniske og mikrooptiske komponeneter så som lab on a chip. Endvidere fint polerede overflader til f.eks. støbeforme brugt til produktion af krævende komponenter, der anvendes til medicinsk diagnostik, farmasi mm.

 

Produkt info og priser

Du finder information om prisen her